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廣東優(yōu)科檢測是專業(yè)的電子元器件失效分析機構(gòu)，擁有電子元器件全領(lǐng)域的失效分析檢測設(shè)備和能力，可提供集成電路IC、半導(dǎo)體分離器件、通用器件、光電子器件、傳感器等電子元器件失效分析服務(wù)。
電子元件器失效分析（FA）是對已失效電子元器件進行的一種事后檢查。根據(jù)需要，采用電測試以及各種先進的物理、金相和化學(xué)分析技術(shù)，并結(jié)合元器件失效前后的具體情況及有關(guān)技術(shù)文件進行分析，以驗證所報告的失效，確定元器件的失效模式、失效機理和造成失效的原因。
全面系統(tǒng)的失效分析可以確定失效的原因，對于器件設(shè)計、制造工藝、試驗或應(yīng)用的改進具有指導(dǎo)作用，采取相應(yīng)的糾正措施消除失效模式或機理產(chǎn)生的原因，從而實現(xiàn)器件以及裝備整體可靠性的提高。
1. 元器件生產(chǎn)商：深度介入產(chǎn)品設(shè)計、生產(chǎn)、可靠性試驗、售后等階段，為客戶提供改進產(chǎn)品設(shè)計和工藝的理論依據(jù)。
2. 組裝廠：劃分責(zé)任，提供索賠依據(jù)；改進生產(chǎn)工藝；篩選元器件供應(yīng)商；提高測試技術(shù)；改進電路設(shè)計。
3. 器件代理商：區(qū)分品質(zhì)責(zé)任，提供索賠依據(jù)。
4. 整機用戶：提供改進操作環(huán)境和操作規(guī)程的依據(jù)，提高產(chǎn)品可靠性，樹立企業(yè)品牌形象，提高產(chǎn)品競爭力。
集成電路IC：存儲類IC、電源類IC、處理器類IC、常規(guī)功能性IC等；
半導(dǎo)體分離器件：二極管、三極管、雙極型昂體管、場效應(yīng)晶體管、閘流晶體管；
通用器件：電阻、電容、電感、電位器、晶體元器件；
光電子器件：顯示器及組件、光發(fā)射器件及組件、光電合器件、光探測器件及組件；
真空電子器件：微波電子管、微波功率模塊、氣體放電器件；
機電元件及組件：連接器、繼電器、開關(guān)、電線/電纜；
傳感器：溫度傳感器、濕度傳感器、壓力傳感器等。
1. 電測：
- 連接性測試
- 電參數(shù)測試
- 功能測試
2. 無損分析技術(shù)：
- X射線透視技術(shù)
- 三維透視技術(shù)
- 反射式掃描聲學(xué)顯微技術(shù)（C- SAM）
3. 制樣技術(shù)：
- 開封技術(shù)（機械開封、化學(xué)開封、激光開封）
- 去鈍化層技術(shù)（化學(xué)腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機械研磨去鈍化層）
- 微區(qū)分析技術(shù)（FIB、CP）
- 電子元器件失效分析
4. 顯微形貌像技術(shù)：
- 光學(xué)顯微分析技術(shù)
- 掃描電子顯微鏡二次電子像技術(shù)
- 電子元器件失效分析
5. 失效定位技術(shù)：
- 顯微紅外熱像技術(shù)(熱點和溫度繪圖)
- 液晶熱點檢測技術(shù)
- 光發(fā)射顯微分析技術(shù)(EMMI)
6. 表面元素分析：
- 掃描電鏡及能譜分析（SEM/EDS）
- 俄歇電子能譜分析（AES）
- X射線光電子能譜分析（XPS）
- 二次離子質(zhì)譜分析（SIMS）
7. 失效復(fù)現(xiàn)/驗證
電子元器件失效分析流程
1、提供電子元器件設(shè)計和工藝改進的依據(jù)，指引產(chǎn)品可靠性工作方向；
2、查明電子元器件失效根本原因，有效提出并實施可靠性改進措施；
3、提高成品產(chǎn)品成品率及使用可靠性，提升企業(yè)核心競爭力；
4、明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方，為司法仲裁提供依據(jù)。
1. 可靠性檢測專家、定制化服務(wù)、專業(yè)人員技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)。
2. 可依據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格，準確制定元器件的篩選方案和規(guī)程。
3. 依據(jù)篩選結(jié)果，準確定位元器件失效機理，并依據(jù)客戶需求給出元器件失效分析方案。
4. 軍用級檢測體系控制+軍方實驗室認可檢測設(shè)備，保證測試流程和測試精度，第三方公正檢測機構(gòu)。
5. 二十年元器件專業(yè)檢測實驗室+元器件一站式檢測服務(wù)：器件自動化封測、品牌供應(yīng)商器件篩選、汽車電子（AEC-Q100、AEC-Q200）、軍工電子、 DPA檢測、失效分析等檢測配套能力。
如果您對我司的產(chǎn)品或服務(wù)有任何意見或者建議，您可以通過這個渠道給予我們反饋。您的留言我們會盡快回復(fù)！
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